{"id":3052,"date":"2025-09-26T18:28:20","date_gmt":"2025-09-26T18:28:20","guid":{"rendered":"http:\/\/www.e-rihs.pl\/?page_id=3052"},"modified":"2026-02-21T12:42:10","modified_gmt":"2026-02-21T12:42:10","slug":"nieniszczaca-analiza-skladu-chemicznego-metali-i-stopow-ed-xrf","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/nieniszczaca-analiza-skladu-chemicznego-metali-i-stopow-ed-xrf\/","title":{"rendered":"Nieniszcz\u0105ca analiza sk\u0142adu chemicznego metali i stop\u00f3w (ED-XRF)"},"content":{"rendered":"<p><strong>Dysponent:<\/strong> AGH &#8211; Akademia G\u00f3rniczo Hutnicza w Krakowie,\u00a0Centrum Bada\u0144 Nawarstwie\u0144 Historycznych<br \/>\n<strong>Kontakt: <\/strong><a href=\"mailto:agarbacz@agh.edu.pl\">dr hab. Aldona Garbacz-Klempka<img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" src=\"https:\/\/fizyka.umk.pl\/~erihs\/wp-content\/uploads\/2016\/05\/koperta.gif\" alt=\"koperta\" width=\"14\" height=\"16\" \/><\/a><\/p>\n<h1>Opis metody<\/h1>\n<p style=\"text-align: justify;\">Analiza opiera si\u0119 na charakterystycznej zdolno\u015bci ka\u017cdego pierwiastka do emitowania indywidualnego widma, kt\u00f3re po rozdzieleniu jest rejestrowane i dostarcza informacji o obecno\u015bci danego pierwiastka w pr\u00f3bce. W tej technice \u017ar\u00f3d\u0142em wzbudzenia jest lampa rentgenowska. Wyb\u00f3r promieniowania w zale\u017cno\u015bci od jego energii umo\u017cliwia spektrometr elektroniczny z analizatorem amplitudy impulsu. Kalibracja spektrometru umo\u017cliwi\u0142a przej\u015bcie od obserwowanych intensywno\u015bci charakterystycznych linii spektralnych promieniowania do st\u0119\u017ce\u0144 pierwiastk\u00f3w w badanym materiale. Do bada\u0144 t\u0105 technik\u0105 wykorzystywany jest spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersj\u0105 energii (ED-XRF) o ma\u0142ej plamce. Zapewnia on wysok\u0105 dok\u0142adno\u015b\u0107 pomiaru pierwiastk\u00f3w g\u0142\u00f3wnych i \u015bladowych. Wbudowana kamera pozwala na precyzyjny wyb\u00f3r punkt\u00f3w pomiarowych i dokumentacj\u0119 fotograficzn\u0105 z zaznaczeniem obszaru pomiaru, powi\u0119kszonego do 5x. Mo\u017cliwe jest wykonywanie pomiar\u00f3w w wybranych punktach, skanowanie liniowe oraz tworzenie map rozmieszczenia pierwiastk\u00f3w na powierzchni artefakt\u00f3w metalowych i innych obiekt\u00f3w zawieraj\u0105cych metal. Metoda ta jest przeznaczona do metali nie\u017celaznych i stop\u00f3w metali, ze szczeg\u00f3lnym uwzgl\u0119dnieniem metali szlachetnych. Dodatkowa funkcja pozwala na pomiar grubo\u015bci warstwy z\u0142ota na przedmiotach poz\u0142acanych. Aby uzyska\u0107 prawid\u0142owy wynik analizy ilo\u015bciowej, powierzchnia badana powinna by\u0107 oczyszczona z produkt\u00f3w korozji i zanieczyszcze\u0144. W przypadku metali i stop\u00f3w uzyskuje si\u0119 analizy jako\u015bciowe i ilo\u015bciowe, natomiast zawarto\u015b\u0107 metalu w pr\u00f3bkach ceramicznych, kamiennych lub innych mo\u017cna oceni\u0107 jedynie jako\u015bciowo.<\/p>\n<h1>Zastosowanie<\/h1>\n<p style=\"text-align: justify;\">Analiza sk\u0142adu chemicznego metali i stop\u00f3w za pomoc\u0105 spektroskopii fluorescencji rentgenowskiej z dyspersj\u0105 energii (ED-XRF).<\/p>\n<h1>Instrument<\/h1>\n<ul>\n<li style=\"text-align: justify;\">Energy dispersive X-ray fluorescence (ED-XRF) spectrometer<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Model SPECTRO MIDEX LD<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Producent SPECTRO Analytical Instruments GmbH<\/li>\n<\/ul>\n<p style=\"text-align: justify;\">Analiza elementarna poprzez pomiar w ma\u0142ych punktach, w trybie skanowania liniowego i mapowania.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Konfiguracja SPECTRO MIDEX:<\/p>\n<ul>\n<li style=\"text-align: justify;\">Odleg\u0142o\u015b\u0107 robocza od pr\u00f3bki 20 mm<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Detektor SDD<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Lampa rentgenowska, anoda molibdenowa (Mo), maks. 48 kV<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Precyzyjny stolik XYZ z nap\u0119dem silnikowym o maksymalnym zakresie ruchu 240 x 178 x 160 mm\/ (szer. x g\u0142. x wys.) maks.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Masa pr\u00f3bki 3 kg<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Sterowane programowo kolimatory o \u015brednicy punktu pomiarowego: 0,25\/0,7\/1,2\/3,5\/4,4 (mm)<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Oprogramowanie oparte na menu do sterowania funkcjami spektrometru i oceny danych<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Program analizy parametr\u00f3w podstawowych FP+ do analizy sk\u0142adu pierwiastkowego stop\u00f3w,<br \/>\nFP++ do analizy stop\u00f3w metali szlachetnych oraz do badania grubo\u015bci warstwy pow\u0142oki Au.<\/li>\n<\/ul>\n<h1>Przeprowadzenie badania<\/h1>\n<ul>\n<li style=\"text-align: justify;\">Wst\u0119pna obserwacja obiektu, w tym analiza dost\u0119pno\u015bci obszaru badania.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Zebranie informacji o przedmiocie od w\u0142a\u015bciciela.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Przygotowanie obszaru testowego, je\u015bli to konieczne i je\u015bli w\u0142a\u015bciciel wyrazi na to zgod\u0119.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Wyb\u00f3r punkt\u00f3w pomiarowych i udokumentowanie ich za pomoc\u0105 zdj\u0119\u0107 w odpowiednim powi\u0119kszeniu (1-5x).<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Wyb\u00f3r odpowiedniego kolimatora i metody<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Analiza widma fluorescencji rentgenowskiej<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Analiza danych ilo\u015bciowych<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Przygotowanie raportu.<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Dysponent: AGH &#8211; Akademia G\u00f3rniczo Hutnicza w Krakowie,\u00a0Centrum Bada\u0144 Nawarstwie\u0144 Historycznych Kontakt: dr hab. Aldona Garbacz-Klempka Opis metody Analiza opiera si\u0119 na charakterystycznej zdolno\u015bci ka\u017cdego pierwiastka do emitowania indywidualnego widma, kt\u00f3re po rozdzieleniu jest rejestrowane i dostarcza informacji o obecno\u015bci &hellip; <a href=\"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/nieniszczaca-analiza-skladu-chemicznego-metali-i-stopow-ed-xrf\/\">Czytaj dalej <span class=\"meta-nav\">&rarr;<\/span><\/a><\/p>\n","protected":false},"author":2,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-3052","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3052","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/users\/2"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=3052"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3052\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":3381,"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3052\/revisions\/3381"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3052"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}