{"id":3082,"date":"2025-09-27T13:02:14","date_gmt":"2025-09-27T13:02:14","guid":{"rendered":"http:\/\/www.e-rihs.pl\/?page_id=3082"},"modified":"2026-02-21T12:48:28","modified_gmt":"2026-02-21T12:48:28","slug":"skaningowa-mikroskopia-elektronowa-z-analizatorem-dyspersji-energii-sem-eds","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/skaningowa-mikroskopia-elektronowa-z-analizatorem-dyspersji-energii-sem-eds\/","title":{"rendered":"Skaningowa mikroskopia elektronowa  z analizatorem dyspersji energii SEM-EDS"},"content":{"rendered":"<p style=\"text-align: justify;\"><strong>Dysponent:<\/strong> AGH &#8211; Akademia G\u00f3rniczo Hutnicza w Krakowie,\u00a0Centrum Bada\u0144 Nawarstwie\u0144 Historycznych<br \/>\n<strong>Kontakt: <\/strong><a href=\"mailto:agarbacz@agh.edu.pl\">dr hab. Aldona Garbacz-Klempka, prof. AGH<img decoding=\"async\" loading=\"lazy\" src=\"https:\/\/fizyka.umk.pl\/~erihs\/wp-content\/uploads\/2016\/05\/koperta.gif\" alt=\"koperta\" width=\"14\" height=\"16\" \/><\/a><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Analiza SEM-EDS jest technik\u0105 analityczn\u0105 nieniszcz\u0105c\u0105. Dzi\u0119ki du\u017cej komorze mikroskopu elektronowego obiekt mo\u017ce by\u0107 badany w ca\u0142o\u015bci. Powierzchnia i struktura s\u0105 obserwowane za pomoc\u0105 mikroskopu elektronowego (SEM). S\u0142u\u017cy on r\u00f3wnie\u017c do wyboru obszaru do analizy sk\u0142adu chemicznego. Detektor EDS analizuje promieniowanie rentgenowskie,\u00a0co pozwala okre\u015bli\u0107 sk\u0142ad pierwiastkowy mikroobszaru badanej pr\u00f3bki.<br \/>\nSkaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) umo\u017cliwia rejestrowanie obraz\u00f3w powierzchni i mikrostruktur pr\u00f3bek przy du\u017cym powi\u0119kszeniu za pomoc\u0105 obrazowania elektronami wt\u00f3rnymi (SE) lub elektronami wstecznie rozproszonymi (BSE). Dzi\u0119ki du\u017cemu powi\u0119kszeniu i wysokiej rozdzielczo\u015bci umo\u017cliwia obserwacj\u0119 charakterystycznych cech materia\u0142u i r\u00f3\u017cnic w jego sk\u0142adzie chemicznym. Po\u0142\u0105czenie mikroskopii elektronowej i analizy elementarnej pozwala na rejestrowanie obraz\u00f3w powierzchniowych i mikrostruktur zar\u00f3wno bardzo ma\u0142ych pr\u00f3bek (pobranych dla innych metod), jak i ca\u0142ych obiekt\u00f3w, a tak\u017ce na analiz\u0119 zawarto\u015bci pierwiastk\u00f3w i profili ich rozmieszczenia w badanym mikroobszarze.<br \/>\nSt\u0119\u017cenie pierwiastk\u00f3w w pr\u00f3bce mo\u017cna analizowa\u0107 punkt po punkcie, liniowo oraz w postaci mapy rozmieszczenia pierwiastk\u00f3w na badanej powierzchni.<\/p>\n<p>Skaningowy mikroskop elektronowy posiada dodatkowe tryby pracy: szerokie pole widzenia, g\u0142\u0119bia i obrazowanie w falszywych kolorach. Dzi\u0119ki mo\u017cliwo\u015bci obserwacji i pomiar\u00f3w w niskim ci\u015bnieniu, badania mog\u0105 by\u0107 r\u00f3wnie\u017c przeprowadzane na materia\u0142ach nieprzewodz\u0105cych.<br \/>\nMetoda ta jest stosowana do badania r\u00f3\u017cnych materia\u0142\u00f3w, w tym g\u0142\u00f3wnie metali i stop\u00f3w, szk\u0142a i ceramiki.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><strong>Instrument<\/strong>:<\/p>\n<ul>\n<li style=\"text-align: justify;\">Mikroskop elektronowy\u00a0 TESCAN MIRA4 GMU<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Analizator dyspersji energii EDS: Aztec Energy Oxford Instruments &#8211; UltimMax<\/li>\n<\/ul>\n<p style=\"text-align: justify;\">Mikroskop elektronowy skaningowy (SEM) czwartej generacji TESCAN MIRA z \u017ar\u00f3d\u0142em emisji elektron\u00f3w FEG Schottky \u0142\u0105czy obrazowanie SEM i analiz\u0119 sk\u0142adu pierwiastkowego w jednym oknie oprogramowania TESCAN Essence\u2122. Takie po\u0142\u0105czenie znacznie upraszcza pozyskiwanie zar\u00f3wno danych morfologicznych, jak i sk\u0142adu pierwiastkowego pr\u00f3bki, dzi\u0119ki czemu MIRA SEM stanowi wydajne rozwi\u0105zanie analityczne do nieniszcz\u0105cej analizy powierzchni i mikrostruktury artefakt\u00f3w i materia\u0142\u00f3w historycznych. Optymalne warunki obrazowania i analizy s\u0105 natychmiast dost\u0119pne dzi\u0119ki unikalnej konstrukcji optycznej TESCAN bez apertury, opartej na technologii In-flight Beam Tracing\u2122.<br \/>\nPlatforma analityczna wyposa\u017cona w pe\u0142ni zintegrowany system TESCAN Essence\u2122 EDS, kt\u00f3ry skutecznie \u0142\u0105czy obrazowanie SEM z analiz\u0105 sk\u0142adu pierwiastkowego.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><strong>Konfiguracja TESCAN MIRA:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li style=\"text-align: justify;\">Mikroskop wyposa\u017cony w dwa detektory obrazuj\u0105ce: detektor elektron\u00f3w wt\u00f3rnych (SE) i detektor rozpraszania wstecznego (BSE),\u00a0Dodatkowy detektor GSD elektron\u00f3w wt\u00f3rnych (SE) zaprojektowany do pracy w trybie niskiej pr\u00f3\u017cni, kt\u00f3ry umo\u017cliwia obserwacj\u0119 pr\u00f3bek nieprzewodz\u0105cych w ich naturalnym stanie,<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Komora typu GM do umieszczania pr\u00f3bek o maksymalnych wymiarach: 335 (X) x 310 (Y) x 147 (Z) mm,\\<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Obci\u0105\u017cenie stolika do 8 kg,<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Zakres powi\u0119kszenia elektronowego od 2x do co najmniej 1 000 000 razy dla pr\u00f3bek w stanie naturalnym.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Nominalna rozdzielczo\u015b\u0107 1,2 nm w trybie obrazowania SE,<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">P\u0142ynna regulacja pr\u0105du wi\u0105zki w zakresie od 2 pA do 400 nA,<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Regulacja ci\u015bnienia w trybie niskiej pr\u00f3\u017cni od 7 do 700 Pa.<\/li>\n<\/ul>\n<p style=\"text-align: justify;\"><strong>Analiza EDS<\/strong> zapewnia analiz\u0119 elementarn\u0105 i chemiczn\u0105 pr\u00f3bki w po\u0142\u0105czeniu z obserwacj\u0105 SEM.<br \/>\nSpektrometria dyspersji energii (EDS) to technika charakteryzowania materia\u0142\u00f3w stosowana do identyfikacji pierwiastk\u00f3w obecnych w materiale. EDS mierzy promieniowanie rentgenowskie generowane w wyniku interakcji wi\u0105zki elektron\u00f3w z pr\u00f3bk\u0105 w mikroskopie elektronowym. Wykrywanie i charakterystyka tych promieni rentgenowskich pozwala uzyska\u0107 zaawansowane informacje o materiale, od identyfikacji pierwiastk\u00f3w, sk\u0142adu i rozk\u0142adu fazowego po grubo\u015b\u0107 pr\u00f3bki.<br \/>\nDetektor Ultim Max (SDD) umo\u017cliwia analiz\u0119 o wysokiej czu\u0142o\u015bci, detektor o powierzchni aktywnej 40 mm\u00b2 i rozdzielczo\u015bci &lt;127 eV.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Metoda spektroskopii rentgenowskiej z dyspersj\u0105 energii (EDS) w po\u0142\u0105czeniu z systemem analitycznym AZtec Energy umo\u017cliwia wiele zaawansowanych opcji analizy, takich jak analiza sk\u0142adu wybranego obszaru stopu wykonywana: punkt po punkcie, linia po linii oraz poprzez mapowanie rozk\u0142adu poszczeg\u00f3lnych pierwiastk\u00f3w na wybranej powierzchni artefaktu.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><strong>Procedura badania:<\/strong><\/p>\n<ol>\n<li style=\"text-align: justify;\">Wst\u0119pna obserwacja obiektu<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Uzyskanie danych o obiekcie i sformu\u0142owanie pyta\u0144 badawczych<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Oczyszczenie fragmentu powierzchni obiektu, je\u015bli to konieczne<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Zamontowanie obiektu na stoliku mikroskopu za pomoc\u0105 ta\u015bmy w\u0119glowej lub miedzianej<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Wyb\u00f3r trybu obserwacji w wysokiej lub niskiej pr\u00f3\u017cni<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Obserwacja i dokumentacja przy niskich powi\u0119kszeniach w trybie Wide Field Optics\u2122<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Wyb\u00f3r odpowiednich powi\u0119ksze\u0144<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Obrazowanie powierzchni i struktury za pomoc\u0105 elektron\u00f3w wt\u00f3rnych (SE) lub elektron\u00f3w wstecznie rozproszonych (BSE).<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Wyb\u00f3r obszaru do analizy EDS.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Analiza EDS powierzchni i mikrostruktury pod k\u0105tem sk\u0142adu chemicznego.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Rejestrowanie wynik\u00f3w w postaci mapy rozmieszczenia pierwiastk\u00f3w na powierzchni, analizy punktowej lub wzd\u0142u\u017c wyznaczonej linii.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Przygotowanie raportu z bada\u0144.<\/li>\n<li style=\"text-align: justify;\">Om\u00f3wienie wynik\u00f3w.<\/li>\n<\/ol>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Dysponent: AGH &#8211; Akademia G\u00f3rniczo Hutnicza w Krakowie,\u00a0Centrum Bada\u0144 Nawarstwie\u0144 Historycznych Kontakt: dr hab. Aldona Garbacz-Klempka, prof. AGH Analiza SEM-EDS jest technik\u0105 analityczn\u0105 nieniszcz\u0105c\u0105. Dzi\u0119ki du\u017cej komorze mikroskopu elektronowego obiekt mo\u017ce by\u0107 badany w ca\u0142o\u015bci. Powierzchnia i struktura s\u0105 obserwowane &hellip; <a href=\"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/skaningowa-mikroskopia-elektronowa-z-analizatorem-dyspersji-energii-sem-eds\/\">Czytaj dalej <span class=\"meta-nav\">&rarr;<\/span><\/a><\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3082"}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=3082"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3082\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":3389,"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3082\/revisions\/3389"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.e-rihs.pl\/index.php\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3082"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}