Dysponent: Muzeum Narodowe w Krakowie – LANBOZ, UW, ASP w Krakowie
Kontakt: dr Julio del Hoyo Meléndez 
(LANBOZ); dr hab. Barbara Wagner (UW); dr Maria Goryl (ASP)
Opis metody
Metoda XRF polega na wtórnej emisji promieniowania rentgenowskiego (fluorescencji) z materiału, który został wzbudzony za pomoc promieniowania rentgenowskiego. Każdy pierwiastek zawarty w analizowanym materiale w skutek wzbudzenie rentgenowskiego, emituje charakterystyczne dla siebie widmo stanowiące podstawę do jego identyfikacji.
Zastosowanie
W dziedzinie badania obiektów zabytkowych metoda znajduje zastosowanie przede wszystkim do badania:
- składu pierwiastkowego pigmentów i warstw metalicznych (np. złoceń) tworzących warstwę malarską obrazów sztalugowych i ściennych
- składu pierwiastkowego atramentów zawierających komponenty nieorganiczne
- składu pierwiastkowego szkła zabytkowego
- skład pierwiastkowego obiektów ceramicznych
- pierwiastków wchodzących w skład obiektów archeologicznych
Instrument
W badaniach wykorzystywany jest instrument S1 Titan LE model 600 (Bruker, Niemcy) wraz z oprogramowaniem S1PXRF 3.8.30 (Bruker, Niemcy) o następujących parametrach:
- Instrument ręczny (waga 1,5 kg) wyposażony w baterię zapewniającą kilkugodzinną pracę bez potrzeby zasilania sieciowego, co umożliwia wykonywanie pomiarów w terenie
- źródło promieniowania rentgenowskiego: lampa z anodą rodową (Rh) chłodzona powietrzem, max. U=50 kV, 15 μA
- detektor: SDD (Silicon Drift Detektor)
- minimalny rozmiar plamki promieniowania (zdolność rozdzielcza) 5 mm
- czas pomiaru: regulowany
- Wykrywane pierwiastki: od magnezu (Mg12), pomiaru w atmosferze powietrza
Warunki badania
Pomiar wykonuje się przykładając spektrometr do powierzchni badanego obiektu.
Rys. 1. S1 Titan LE, sposób pomiaru obiektu o małych rozmiarach
Format wyników
Możliwość wykonania analizy jakościowej oraz półilościowej z wykorzystaniem metody obliczeniowej parametrów fundamentalnych, która powstała na podstawie widm uzyskanych ze współczesnych stopów metali.
Wyniki dostarczane są w postaci widm fluorescencji z liniami emisyjnymi charakterystycznymi dla każdego pierwiastka i koncentracją tego pierwiastka w mierzonym materiale.
Bibliografia:
- Julio del Hoyo-Meléndez , Paweł Świt, Marta Matosz, Mateusz Woźniak, Anna Klisińska-Kopacz, Łukasz Bratasz, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, „Micro-XRF analysis of silver coins from medieval Poland”, 2015, 349, s. 6-16.